以下關(guān)于自頂向下開發(fā)方法的敘述中，正確的是（）。
A．自頂向下過程因為單元測試而比較耗費(fèi)時間
B．自頂向下過程可以更快地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性能方面的問題
C．相對于自底向上方法，自頂向下方法可以更快地得到系統(tǒng)的演示原型
D．在自頂向下的設(shè)計中，如發(fā)現(xiàn)了一個錯誤，通常是因為底層模塊沒有滿足其規(guī)格說明（因為高層模塊已經(jīng)被測試過了）